Innovativer 3D-Snapshot-Sensor zur Inline-Prüfung von Geometrie, Form und Oberflächen

Der innovative Sensor surfaceCONTROL 3D 3500 von Micro-Epsilon wird zur hochpräzisen Inline-3D-Messung eingesetzt. Mit einer Wiederholpräzision von bis zu 0,4 µm in z-Richtung erreicht der Sensor eine neue Leistungsklasse. Der Snapshot-Sensor ermöglicht eine echte 3D-Auswertungen von Geometrie, Form und Oberfläche und wird zur Inlinemessung eingesetzt. Gleichzeitig steht mit 3DInspect eine durchgängige Softwarelösung für das gesamte 3D-Sensorportfolio von Micro-Epsilon zur Verfügung.

Der neue 3D-Sensor surfaceCONTROL 3D 3500 von Micro-Epsilon ist für die hochgenaue Inspektion verschiedener Oberflächen wie Metall, Kunststoff oder Keramik konzipiert. In nur 0,3 Sekunden werden per Single-Snapshot vollflächige Messungen für die Prüfungen von Geometrie, Form und Oberfläche realisiert. Während herkömmliche Systeme mit 2.5D arbeiten, ermöglicht die Valid3D-Technologie von Micro-Epsilon eine vollständige 3D-Auswertung.

Mit einer z-Wiederholpräzision bis 0,4 µm werden neue Maßstäbe in der 3D-Messtechnik erreicht und kleinste Ebenheitsabweichungen und Höhenunterschiede zuverlässig erfasst. Eingesetzt wird der innovative 3D-Sensor zur automatisierten 3D-Vermessung von Lochabständen, Ebenheit und Koplanarität von mechanischen Präzisionsteilen und elektronischen Komponenten.

Im Lieferumfang enthalten ist die Software 3DInspect, die mit allen 3D-Sensoren im Micro-Epsilon Portfolio kompatibel ist. Der moderne GenICam-Standard erlaubt eine einfache Einbindung und eine hohe Flexibilität in der Applikation. Das surfaceCONTROL 3D 3500 arbeitet nach dem Prinzip der optischen Triangulation mittels Streifenlichtprojektion. Mithilfe eines Matrix-Projektors wird eine Musterfolge auf die Messobjektoberfläche projiziert. Das von der Prüfobjektoberfläche diffus reflektierte Licht der Muster wird mit zwei Kameras erfasst. Aus den aufgenommenen Bildfolgen und den Kenntnissen der Anordnung der beiden Kameras zueinander wird die dreidimensionale Oberfläche des Prüfobjekts berechnet.