Optisches Mikrometer für große Messobjekte

Micro-Epsilon: Das kompakte optische Mikrometer optoCONTROL 2520 mit integriertem Controller zeichnet sich durch hohe Genauigkeit und flexible Montage aus. Mit der neuen Anbindungsoption können mehrere Mikrometer zusammengeschlossen werden um große Objekte zu erfassen.  

Das kompakte Laser-Mikrometer optoCONTROL 2520 mit integriertem Controller kann auch mit dem  Multifunktionscontroller CSP2008 kombiniert werden. Somit wird die Messung von Dicke oder Durchmesser großer Objekte ermöglicht. Die Messwerte werden nach der Aufnahme durch das optische Mikrometer im Controller berechnet. Das Display am CSP2008 zeigt die Werte der einzelnen Controller und das Dickenmaß (Absolutmaß). Insgesamt können bis zu sechs Systeme an den CSP2008 angeschlossen werden. Die Anbindung erfolgt via plug-n-play. Das komfortable Ethernet basierte Webinterface erleichtert die Bedienung und Integration sowie den Fernzugriff im Fertigungsprozess. Die Baureihe optoCONTROL 2520 eignet sich für vielfältige Einsätze in der Qualitätsüberwachung und Produktion.